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工頻高壓試驗裝置介電強度檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
工頻高壓試驗裝置檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 848.2-2018高壓試驗裝置通用技術(shù)條件第2部分:工頻高壓試驗裝置檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對工頻高壓試驗裝置介電...
工頻高壓試驗裝置裝置整體工頻耐壓耐壓試驗檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
工頻高壓試驗裝置檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 848.2-2018高壓試驗裝置通用技術(shù)條件第2部分:工頻高壓試驗裝置檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對工頻高壓試驗裝置裝置...
互感器綜合特性測試儀電壓示值誤差檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
互感器綜合特性測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1221-2013互感器綜合特性測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對互感器綜合特性測試儀電壓示值誤差...
互感器綜合特性測試儀電流示值誤差檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
互感器綜合特性測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1221-2013互感器綜合特性測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對互感器綜合特性測試儀電流示值誤差...
互感器綜合特性測試儀變比、極性檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
互感器綜合特性測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1221-2013互感器綜合特性測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對互感器綜合特性測試儀變比、極性檢...
互感器綜合特性測試儀二次繞組電阻和二次回路電阻測量誤差檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
互感器綜合特性測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1221-2013互感器綜合特性測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對互感器綜合特性測試儀二次繞組電阻...
互感器綜合特性測試儀介電強度檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
互感器綜合特性測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1221-2013互感器綜合特性測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對互感器綜合特性測試儀介電強度檢測...
絕緣柵雙極型晶體管集電極-發(fā)射極飽和電壓檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
絕緣柵雙極型晶體管檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GBT GB/T 29332-2012半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對絕緣柵雙極型晶體管...
絕緣柵雙極型晶體管柵極-發(fā)射極閾值電壓檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
絕緣柵雙極型晶體管檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GBT GB/T 29332-2012半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對絕緣柵雙極型晶體管...
絕緣柵雙極型晶體管集電極截止電流檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
絕緣柵雙極型晶體管檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GBT GB/T 29332-2012半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對絕緣柵雙極型晶體管...
絕緣柵雙極型晶體管柵極漏電流檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
絕緣柵雙極型晶體管檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GBT GB/T 29332-2012半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對絕緣柵雙極型晶體管...
絕緣柵雙極型晶體管結(jié)到殼熱阻/結(jié)到殼瞬態(tài)熱阻抗檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
絕緣柵雙極型晶體管檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GBT GB/T 29332-2012半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對絕緣柵雙極型晶體管...
變壓器空、負載損耗測試儀負載損耗檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
變壓器空、負載損耗測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1256-2013變壓器空、負載損耗測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對變壓器空、負載損耗測試儀...
相對介損及電容測試儀介電強度檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
相對介損及電容測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 1516-2016相對介損及電容測試儀通用技術(shù)條件檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對相對介損及電容測試儀介電強度檢測...
有載分接開關(guān)測試儀介電強度檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
有載分接開關(guān)測試儀檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)DL/T 846.8-2017高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件第8部分:有載分接開關(guān)測試儀檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對有載分接開關(guān)測...
半導(dǎo)體集成電路(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器)電源電流檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
半導(dǎo)體集成電路(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器)檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)QJ 3044-98半導(dǎo)體集成電路 模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器測試方法檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對半...
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)復(fù)位電壓檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對半導(dǎo)體集成電路(時基電路)...
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)復(fù)位電流檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對半導(dǎo)體集成電路(時基電路)...
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)觸發(fā)電壓檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對半導(dǎo)體集成電路(時基電路)...
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)觸發(fā)電流檢測
資質(zhì):CNAS/CMA
報告:中文/英文
周期:3-10個工作日
簡介:
半導(dǎo)體集成電路(時基電路)檢測項目標(biāo)準(zhǔn)及流程是什么?實驗室可依據(jù)GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理檢測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗方法,對半導(dǎo)體集成電路(時基電路)...
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